E_Lac、E_Limp的确定方式^[1,2]
　　电缆的绝缘击穿分散性通常以韦伯（Weibull）分布表征，XLPE电缆在电场强度为E时绝缘被击穿的概率为
　　式中,E_L为位置参数；E₀为尺寸参数；M为形状参数。　按电缆绝缘的体积V来表征XLPE电缆在电场强度为E时绝缘被击穿的概率，则式可变换P(E)=1-exp[-k•V(E-E_L

式中，k为相关常数。从数值统计意义上看，在XLPE电缆的电场强度为最低击穿场强E_L值及以下时，绝缘被击穿的概率为零。

1.1.1　电场强度表征值的择取^[2～3]。电场强度在内半导电层处有最高场强E_max与平均场强E_mean之分。　　
　　　E_max=U/[rln(R/r)］
　　　E_mean=U/△_i式中，R、r为绝缘层、内半导电层的半径；U为电压。
　　有的国家（法国、荷兰等）用对XLPE电缆如充油电缆同样的方式取E_max表征。在法国，对400kV XLPE电缆，绝缘厚度按工频E_maxac=16kV/mm来确定；若截面为1200mm²以下时按冲击E_maximp=85kV/mm来确定；大截面则按工频最小E_maxac=7kV/mm来制约绝缘厚度。
　　另外，由于XLPE电缆绝缘弱点（如杂质等）具有随机分布性，因此，电缆绝缘击穿实际不一定始于E_max，因而认为以E_mean表征更为合理。日本、德国、英国、韩国等就采取此方式。
　　此外，试验显示，E_max随d/D（d、D为电缆绝缘的内、外径）比值变化而变化，随电缆截面增大而趋于减小，但E_mean却不随d/D比值变化而异，故在XLPE电缆的绝缘厚度为待定对象时，择取E_mean较简明合适。
1.1.2　以包含薄绝缘层试样等测试方式确定击穿场强^[2]　　　　
　　日本研制500kV XLPE电缆时，在改善绝缘弱点（杂质、半导电层突起等）的生产工艺及其质量监控方面比以往275kV XLPE电缆的制造有了明显的进步。进行绝缘设计时，曾按500kV XLPE电缆工艺条件制备了一批比预期绝缘厚度（25～30mm）薄些（6、9、15mm）的试样。
　　（1） 以绝缘层较薄的样品进行测试取得反映绝缘特性的基础数据。以绝缘厚度为6mm的样品40个在室温下测试其击穿场强值整理出按F(x%)的韦伯分布曲线。得到最低击穿场强E_Lac=57kV/mm、m_ac=1.4、E_oac=15 kV/mm，E_Limp=112kV/mm、m_imp=1.8、E_oimp=35kV/mm（电缆样品条件d、D分别为16.7mm、28.7mm）；并根据式（3）、（4），按样品长为10 m的条件算出V，可求得k_ac=5.273×10^-9/mm³、k_imp=3.885×10^-9/mm³。
  　又对绝缘厚度分别为6、9、15mm的3类样品分别测试其击穿场强值，察明△_i影响E_mean的变化情况，结果归纳出测试值的关系式有：
　　E_Lac(△_i)=78△_i^-0.18  （5
　　E_Limp(△_i)=155△_i^-0.18（6）　　
　　(2) 按500kV XLPE电缆实际尺寸（△_i为27～30mm，截面为2500mm²，d、D分别为61.2、120.2 mm，长为20m）算出此时的V值。由式（3）、（4）可推算出此时的E_oac=1.1kV/mm、E_oimp=4.7kV/mm。当△_i为27mm时，由式（5）、（6）有E_Lac=43.1kV/mm、E_Limp=85.6kV/mm；若取△_i为30mm时，E_Lac=42.2kV/mm、E_Limp=84kV/mm。实际择取E_Lac=40kV/mm、E_Limp=80kV/mm，见表1中所列。
　 （3）对500kV XLPE试制电缆的设计电场强度进行验证试验。施加电压应不小于式（1）、（2）分子项U_ac=550K₁K₂K₃/=970kV；U_imp=1425k₁k₂k₃=1960kV

实际上，△_i按击穿概率63.2%相当的电压。运用上述(2)中所示数据，由式（3）算出F_ac（63.2%）=44.2kV/mm，施加的工频电压应为1195（44.2×27）kV；F_imp（63.2%）=90.3kV/mm，施加的冲击电压应为2440（90.3×27）kV。由试验结果,击穿概率均小于63.2%获验证。

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